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I
Caractérisation
Microscopie électronique à balayage
>
FCEA01
Introduction à la microscopie électronique à balayage
et à la microanalyse X élémentaire
Durée
24 heures – 4 jours
Lieu
Paris III
e
Dates
3, 4, 5, 6 octobre 2017
Tarif
2 130€
>
FCEA02
Approfondissement en imagerie au MEB et
en microanalyse X
Durée
24 heures – 4 jours
Lieu
Paris III
e
Session 2017
14, 15, 16, 17 mars
Tarif
2 170€
Session 2018
14, 15, 16, 17 mars
Tarif
2 210 €
>
FCEA12
Pratique de l’imagerie au MEB, option matériaux
métalliques
Durée
14 heures – 2 jours
Lieu
A3TS – Paris IX
e
Session 2017
28, 29 juin
Tarif
990€
Session 2018
27, 28 juin
Tarif
1010€
Microanalyse EDS
>
FCEA14
Pratique de la microanalyse élémentaire par
spectrométrie X avec un détecteur à diode (EDS)
associé au MEB
Durée
18 heures – 2,5 jours
Lieu
Paris III
e
2 sessions
en 2017
14, 15, 16 mars
11, 12, 13 décembre
Tarif
1 320€
1 340€
Session 2018
14, 15, 16 mars
Tarif
1 340€
EBSD
>
FCEA05
Pratique de l’analyse EBDS
Durée
26 heures – 5 jours
Lieu
Paris III
e
Dates
20, 21, 22, 23, 24 novembre
2017
Tarif
1 730€
Méthodes physiques
>
FCEA06
Principes, performances et comparaison des
méthodes physiques d’analyse de surface
Durée
18 heures – 3 jours
Lieu
Paris III
e
Session 2017
3, 4, 5 mai
Tarif
1 320€
Session 2018
2, 3, 4 mai
Tarif
1 340€
Matériaux métalliques
