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Analyse d’images
>
FCEA10
Analyse d’images et microscopie quantitative
Durée
30 heures – 5 jours
Lieu
Paris III
e
Dates
9, 10, 11, 12, 13 octobre 2017
Tarif
2 130€
Diffraction X
>
FCEA17
Initiation à la diffraction des rayons X
Durée
18 heures – 3 jours
Lieu
Paris III
e
Dates
3, 4, 5 octobre 2017
Tarif
1 220€
>
EA20
Détermination des contraintes résiduelles par
diffraction des rayons X
Durée
28 heures – 4 jours
Lieu
ENSAM, Paris XIII
e
Dates
14, 15, 16, 17 mars 2017
Tarif
1 800€
Analyse des cycles de vie
>
FCEA21
Analyse des cycles de vie (ACV) pour l’industrie
Durée
24 heures – 4 jours
Lieu
Paris III
e
Dates
23, 24, 25, 26 janvier 2018
Tarif
1 580€
Synchrotron
>
EA08
Techniques avancées de radiation de synchrotron
Durée
7 heures – 1 jour
Lieu
Synchrotron Soleil
(Gif-sur-Yvette)
Dates
19 juin ou 4 décembre 2017
Tarif
570€ HT
Tomographie
>
FCEA22
Caractérisation in situ et métrologie industrielle
par tomographie aux rayons X
Durée
27 heures – 4 jours
Lieu
Paris III
e
2 sessions
en 2017
7, 8, 9, 10 mars
6, 7, 8, 9 novembre
Tarif
2000€
2000€
Session 2018
13, 14, 15, 16 mars
Tarif
2000€
Nouveauté 2017-2018
Nouveauté 2017-2018
Matériaux métalliques
